Laboratorium FIB/SEM [EN-to be translated]Laboratorium wytwarzania i badania nanostruktur za pomocą zogniskowanych wiązek jonów i elektronów (FIB/SEM)
(Laboratorium Drobnowidztwa i Drobnodziejstwa)
kierownik: prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk

  • Wytwarzanie nanonarzędzi  do syntezy i analizy mikro- i nanostruktur metodą trawienia jonowego;
  • Wytwarzanie nanonarzędzi metodą osadzania wspomaganego wiązką elektronową i jonową;
  • Preparatyka próbek przeznaczonych do wysokorozdzielczej transmisyjnej mikroskopii elektronowej;
  • Wytwarzanie i zastosowanie mikro- i nanostruktur dla potrzeb nanometrologii.
Laboratorium Mikroskopii Bliskich Oddziaływań [EN-to be translated]Laboratorium Mikroskopii Bliskich Oddziaływań
kierownik: prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk

  • mikroskopia sił atomowych (AFM)
  • skaningowa mikroskopia tunelowa (STM)
  • mikrobelkowe czujniki chemiczne i biochemiczne
  • nanoczujniki mechaniczne
  • elektroniczne układy pomiarowe i sterujące
Laboratorium Badań Elektrycznych Materiałów [EN-to be translated]Laboratorium Badań Elektrycznych Materiałów
kierownik: prof. dr hab. inż. Karol Nitsch

  • Spektroskopia impedancyjna w dziedzinie częstotliwości
  • Rozwijanie istniejących i opracowanie nowych technik pomiarowych
  • Pomiary impedancji struktur biologicznych i biochemicznych
  • Analiza prądów polaryzacji i depolaryzacji
  • Interpretacja wyników pomiarów zmiennoprądowych z zastosowaniem
    elektrycznych modeli równoważnych
  • Właściwości dielektryczne i mechanizmy przewodnictwa w dielektrykach i
    nanokompozytach, badania strukturalne, defekty, porowatość, hopping, …
  • Fotoadmitancja (modulowany fotoprąd)
  • Pomiary technikami TVS, TSC
Laboratorium Optoelektroniki i Techniki Światłowodowej [EN-to be translated]Laboratorium Optoelektroniki i Techniki Światłowodowej
kierownik: dr inż. Jacek Radojewski

Technika światłowodowa
Możliwości pomiarowe:

  • charakteryzacja światłowodów stosowanych w telekomunikacji i w celach czujnikowych
  • pomiary parametrów światłowodów planarnych
  • pomiary spektralne światłowodów włóknistych
  • pomiary apertury numerycznej
  • pomiary rozkładu współczynnika załamania światła
  • pomiary rozkładu mocy optycznej montaż i diagnostyka sieci światłowodowych metodą OTDR

Optoelektronika
Możliwości pomiarowe

  • diagnostyka elementów, przyrządów i układów optoelektronicznych
  • fotodetektory (podczerwieni, telekomunikacyjne, fotodiody PIN, MSM, lawinowe, fotopowielacze)
  • źródła światła (diody LED, lasery gazowe, na ciele stałym, półprzewodnikowe, telekomunikacyjne, do zastosowań medycznych)
  • przetworniki i wyświetlacze obrazu
  • wyświetlacze alfanumeryczne LCD
  • elementy bierne i czynne techniki światłowodowej włóknistej i scalonej
  • optoelektroniczne i światłowodowe systemy czujnikowe
  • pomiary ugięcia dźwigni w mikroskopii bliskich oddziaływań

Mikroskopia bliskiego pola optycznego
Możliwości pomiarowe

  • analiza i synteza dźwigni pomiarowych typu SNOM/PSTM/AFM z nanoaperturą do pomiarów polaryzacyjnych, fluorescencyjnych, biologicznych oraz topografii
  • obserwacja i analiza propagacji światła w strukturach optyki zintegrowanej, mikroukładach optoelektronicznych i systemach MEOMS
  • pomiary rozkładu współczynnika załamania w strukturach optyki zintegrowanej mikroukładach optoelektronicznych i systemach MEOMS
  • pomiary własności optycznych struktur kwantowych
  • analiza rozkładu promieniowania optycznego emiterów promieniowania (LED, laserów pp) w polu bliskim
Laboratorium Rentgenowskich Badań Strukturalnych [EN-to be translated]Laboratorium Rentgenowskich Badań Strukturalnych
kierownik: dr inż. Jarosław Serafińczuk

Charakteryzacja strukturalna materiałów i struktur:

  • Badania samoorganizujących się cieczy jonowych i cienkich warstw – reflektometria rentgenowska
  • Materiały polikrystaliczne i proszki fotoniczne – identyfikacja fazowa, pomiary naprężeń, wyznaczanie rozmiaru ziaren krystalicznych
  • Materiały elektroniki i optoelektroniki III-V i III-N mocno niedopasowane sieciowo do podłoża – pomiary krzywych odbić i map węzłów sieci odwrotnej oraz pomiary „in-plane”
Laboratorium Techniki Jonowej [EN-to be translated]Laboratorium Techniki Jonowej
kierownik: prof. dr hab. inż. Zbigniew W. Kowalski

  •  trawienie jonowe
  • badanie modyfikacji morfologii powierzchni bombardowanej jonami
  • budowa i działanie wybranych źródeł jonów
Laboratorium Projektowania i Zastosowania Układów Elektronicznych [EN-to be translated]Laboratorium Projektowania i Zastosowania Układów Elektronicznych
kierownik: mgr inż. Daniel Kopiec

  • specjalizowane układy cyfrowe
  • algorytmy neuronowe, rozmyte, genetyczne
  • przetwarzanie danych i sygnałów
  • systemy czujnikowe
Laboratorium Przetwarzania Sygnałów w Technice Mikrosystemów i Nanotechnologii [EN-to be translated]Laboratorium Przetwarzania Sygnałów w Technice Mikrosystemów i Nanotechnologii
kierownik: dr inż. Grzegorz Jóźwiak

  • Pomiary szumów drgań termicznych piezorezystywnych dźwigniowych układów MEMS/NEMS
  • Rekonstrukcja kształtu sond AFM, STM, SThM
  • Analiza powierzchni
    • statystyczna
    • fraktalna
    • metodą motywów 3D
  • Rozpoznawanie charakterystycznych właściwości powierzchni z wykorzystaniem technik klasteryzacji
  • Zaawansowana analiza danych w mikrosckopii sił chemicznych
  • Zaawansowane techniki sterowania procesem nanolitografii Dip-Pen