Seminarium Wydziałowe – wykład Macieja Rudka
W dniu 28 marca odbyło się seminarium wydziałowe, w ramach którego referat pt. „Zastosowania mikroskopii bliskich oddziaływań w metrologii układów klasy„BEYOND CMOS” i „MORE THAN MOORE” ” wygłosił mgr inz. Maciej Rudek. Wystąpienie związane było z zakończeniem przewodu doktorskiego.