4. Zebranie 27 stycznia
Podczas zebrania Zakładu Nanometrologii WEMiF PWr dr inż. Jarosław Serafińczuk wygłosił referat "Zastosowanie dyfrakcji rentgenowskiej prowadzonej od krawędzi próbki w badaniach materiałowych".Read more …
Szukaj
Kontakt
Politechnika Wrocławska
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Zakład Nanometrologii
ul. Zygmunta Janiszewskiego 11/17,
50-372 Wrocław
tel. +48 71 320 3202,
fax +48 71 328 3504
e-mail: teodor.gotszalk@pwr.wroc.pl