3. Zebranie 20 stycznia
Podczas zebrania Zakładu Nanometrologii WEMiF PWr mgr inż. Michał Babij wygłosił referat "Postępy STM". W trakcie wykładu zostały pokazane wyniku uzyskane za pomocą mikroskopu STM serii Drobnowidz ze sterownikiem ARM Scope.Read more …