Monthly Archives: stycznia 2017

Podczas zebrania Zakładu Nanometrologii WEMiF PWr dr inż. Jarosław Serafińczuk wygłosił referat "Zastosowanie dyfrakcji rentgenowskiej prowadzonej od krawędzi próbki w badaniach materiałowych".Read more …

Podczas zebrania Zakładu Nanometrologii WEMiF PWr mgr inż. Michał Babij wygłosił referat "Postępy STM". W trakcie wykładu zostały pokazane wyniku uzyskane za pomocą mikroskopu STM serii Drobnowidz ze sterownikiem ARM Scope.Read more …

Podczas zebrania Zakładu mgr inż. Wojciech Majstrzyk zaprezentował wykład "Działanie, różnice i możliwości dźwigni MEMS aktuowanych elektromagnetyczne: metalizowanych i domieszkowanych". Ponadto w zebraniu uczestniczyła grupa z Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydziału Mechanicznego Technologicznego Politechniki Śląskiej.Read more …