Posiedzenie Komitetu MiAN PAN

W dniu dzisiejszym nasz Zakład gościł zebranie plenarne Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk (KMiAN PAN, http://www.kmian.pan.pl/).

Jednym z punktów programu było zwiedzanie laboratoriów naukowych oraz dydaktycznych Zakładu Nanometrologii WEMiF PWr. Pracownicy, doktoranci oraz studenci realizujący swoje prace w Zakładzie zaprezentowali uczestnikom zebrania:
– Laboratorium dyfraktometrii rentgenowskiej,
– Laboratorium mikroskopii elektronowej i jonowej,
– Laboratorium metrologii struktur MEMS/NEMS,
– Laboratorium mikroskopii bliskich oddziaływań I,
– Laboratorium mikroskopii bliskich oddziaływań SPM II,
– Laboratorium optoelektroniki i techniki światłowodowej I,
– Laboratorium optoelektroniki i techniki światłowodowej II,
– Laboratorium pomiarów elektrycznych,
– Laboratorium metrologii i Laboratorium półprzewodników, dielektryków i magnetyków,
– Laboratorium spektroskopii głębokich poziomów.