3. Zebranie 20 stycznia

Podczas zebrania Zakładu Nanometrologii WEMiF PWr mgr inż. Michał Babij wygłosił referat „Postępy STM”.

W trakcie wykładu zostały pokazane wyniku uzyskane za pomocą mikroskopu STM serii Drobnowidz ze sterownikiem ARM Scope.