Badania

• Wytwarzanie nanonarzędzi  do syntezy i analizy mikro- i nanostruktur metodą trawienia jonowego;
• Wytwarzanie nanonarzędzi metodą osadzania wspomaganego wiązką elektronową i jonową;
• Preparatyka próbek przeznaczonych do wysokorozdzielczej transmisyjnej mikroskopii elektronowej;
• Wytwarzanie i zastosowanie mikro- i nanostruktur dla potrzeb nanometrologii.

• mikroskopia sił atomowych (AFM)
• skaningowa mikroskopia tunelowa (STM)
• mikrobelkowe czujniki chemiczne i biochemiczne
• nanoczujniki mechaniczne
• elektroniczne układy pomiarowe i sterujące

• Spektroskopia impedancyjna w dziedzinie częstotliwości
• Rozwijanie istniejących i opracowanie nowych technik pomiarowych
• Pomiary impedancji struktur biologicznych i biochemicznych
• Analiza prądów polaryzacji i depolaryzacji
• Interpretacja wyników pomiarów zmiennoprądowych z zastosowaniem
  elektrycznych modeli równoważnych
• Właściwości dielektryczne i mechanizmy przewodnictwa w dielektrykach i
  nanokompozytach, badania strukturalne, defekty, porowatość, hopping, …
• Fotoadmitancja (modulowany fotoprąd)
• Pomiary technikami TVS, TSC

Technika światłowodowa
Możliwości pomiarowe:

• charakteryzacja światłowodów stosowanych w telekomunikacji i w celach czujnikowych
• pomiary parametrów światłowodów planarnych
• pomiary spektralne światłowodów włóknistych
• pomiary apertury numerycznej
• pomiary rozkładu współczynnika załamania światła
• pomiary rozkładu mocy optycznej montaż i diagnostyka sieci światłowodowych metodą OTDR

Optoelektronika
Możliwości pomiarowe

• diagnostyka elementów, przyrządów i układów optoelektronicznych
• fotodetektory (podczerwieni, telekomunikacyjne, fotodiody PIN, MSM, lawinowe, fotopowielacze)
• źródła światła (diody LED, lasery gazowe, na ciele stałym, półprzewodnikowe, telekomunikacyjne, do zastosowań medycznych)
• przetworniki i wyświetlacze obrazu
• wyświetlacze alfanumeryczne LCD
• elementy bierne i czynne techniki światłowodowej włóknistej i scalonej
• optoelektroniczne i światłowodowe systemy czujnikowe
• pomiary ugięcia dźwigni w mikroskopii bliskich oddziaływań

Mikroskopia bliskiego pola optycznego
Możliwości pomiarowe

• analiza i synteza dźwigni pomiarowych typu SNOM/PSTM/AFM z nanoaperturą do pomiarów polaryzacyjnych, fluorescencyjnych, biologicznych oraz topografii
• obserwacja i analiza propagacji światła w strukturach optyki zintegrowanej, mikroukładach optoelektronicznych i systemach MEOMS
• pomiary rozkładu współczynnika załamania w strukturach optyki zintegrowanej mikroukładach optoelektronicznych i systemach MEOMS
• pomiary własności optycznych struktur kwantowych
• analiza rozkładu promieniowania optycznego emiterów promieniowania (LED, laserów pp) w polu bliskim

Charakteryzacja strukturalna materiałów i struktur:

• Badania samoorganizujących się cieczy jonowych i cienkich warstw – reflektometria rentgenowska
• Materiały polikrystaliczne i proszki fotoniczne – identyfikacja fazowa, pomiary naprężeń, wyznaczanie rozmiaru ziaren krystalicznych
• Materiały elektroniki i optoelektroniki III-V i III-N mocno niedopasowane sieciowo do podłoża – pomiary krzywych odbić i map węzłów sieci odwrotnej oraz pomiary „in-plane”

•  trawienie jonowe
• badanie modyfikacji morfologii powierzchni bombardowanej jonami
• budowa i działanie wybranych źródeł jonów

• specjalizowane układy cyfrowe
• algorytmy neuronowe, rozmyte, genetyczne
• przetwarzanie danych i sygnałów
• systemy czujnikowe

• Pomiary szumów drgań termicznych piezorezystywnych dźwigniowych układów MEMS/NEMS
• Rekonstrukcja kształtu sond AFM, STM, SThM
• Analiza powierzchni
  • statystyczna
  • fraktalna
  • metodą motywów 3D
• Rozpoznawanie charakterystycznych właściwości powierzchni z wykorzystaniem technik klasteryzacji
• Zaawansowana analiza danych w mikrosckopii sił chemicznych
• Zaawansowane techniki sterowania procesem nanolitografii Dip-Pen