[…] I often say that when you can measure what you are speaking about, and express it in numbers, you know something about it; but when you cannot measure it, when you cannot express it in numbers, your knowledge is of a meagre and unsatisfactory kind; it may be the beginning of knowledge, but you have scarcely in your thoughts advanced to the state of Science, whatever the matter may be.”

William Thomson, lord Kelvin, lecture Electrical Units of Measurement, 3rd of May 1883

[EN-to be translated] Zakład Metrologii Mikro- i Nanostruktur Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej powstał 30 czerwca 2006 roku. Celem naszych prac jest obserwacja i pomiar zjawisk występujących w mikroświecie. W porównaniu z badaniami prowadzonymi w makroskali niewielkie rozmiary obiektów pomiarowych i kwantowy charakter zachowań mikro- i nanostruktur wymagają zastosowania nowych metod i technik eksperymentalnych oraz odmiennej interpretacji uzyskiwanych wyników. Dlatego w naszych badaniach dzięki wykorzystaniu wysokorozdzielczych systemów pomiarowych znajdują zastosowanie następujące metody pomiarowe:

• zaawansowane metody mikroskopii bliskich oddziaływań
  (scanning probe microscopy, SPM),
• zaawansowane metody pomiaru właściwości elektrycznych, w tym spektroskopia impedancyjna
  (impedance spectroscopy, IS),
• skaningowa mikroskopia elektronowa
  (scanning electron microscopy, SEM),
• dyfrakcja rentgenowska
  (X-ray diffraction, XRD),
• metody optoelektroniczne i techniki światłowodowe
• zaawansowane metody przetwarzania sygnałów.

Nasza aktywność obejmuje w ten sposób mikro- i nanoelektronikę, inżynierię materiałową oraz zastosowania techniki mikrosystemów w biotechnologii.