[…] jeśli potrafisz to, o czym mówisz, zmierzyć i przedstawić za pomocą liczb – wiesz coś o tym. Gdy zaś nie możesz tego zmierzyć ni za liczb pomocą przedstawić – wiedza Twa jest jałowa i niezadowalająca. To mogą być zaczątki wiedzy, aleś ledwie – w myślach tylko – pierwsze kroki ku Nauce poczynił, czymkolwiek byś się zajmował.

William Thomson, lord Kelvin, wykład Electrical Units of Measurement, 3 maja 1883

(tłum. G. Wielgoszewski)

Zakład Nanometrologii został utworzony 1 lutego 2017  roku z Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej funkcjonującego od 30 czerwca 2006 roku. Celem naszych prac jest obserwacja i pomiar zjawisk występujących w mikroświecie. W porównaniu z badaniami prowadzonymi w makroskali niewielkie rozmiary obiektów pomiarowych i kwantowy charakter zachowań mikro- i nanostruktur wymagają zastosowania nowych metod i technik eksperymentalnych oraz odmiennej interpretacji uzyskiwanych wyników. Dlatego w naszych badaniach dzięki wykorzystaniu wysokorozdzielczych systemów pomiarowych znajdują zastosowanie następujące metody pomiarowe:

• zaawansowane metody mikroskopii bliskich oddziaływań
  (scanning probe microscopy, SPM),
• zaawansowane metody pomiaru właściwości elektrycznych, w tym spektroskopia impedancyjna
  (impedance spectroscopy, IS),
• skaningowa mikroskopia elektronowa
  (scanning electron microscopy, SEM),
• dyfrakcja rentgenowska
  (X-ray diffraction, XRD),
• metody optoelektroniczne i techniki światłowodowe
• zaawansowane metody przetwarzania sygnałów.

Nasza aktywność obejmuje w ten sposób mikro- i nanoelektronikę, inżynierię materiałową oraz zastosowania techniki mikrosystemów w biotechnologii.